LAP-DW2000全自动干湿一体激光粒度测定仪
LAP-DW2000激光粒度仪是易仕特新的激光粒度仪之一，自上市以来赢得了广大客户的一致好评。LAP-DW2000采用国际先进的Mie氏散射原理和汇聚光傅立叶变换光路。高密度探头及全量程无缝衔接测试方法，保证了测试结果的准确性和重复性。
电子半导体图像法污染物分析系统
电子半导体图像法清洁度分析系统是普勒新世纪实验按照普洛帝分析仪器事业部的规划，于2001年推向市场的成熟系统仪器；观察颗粒形貌，还可以得到粒度分布、数量、大小、平均长径比以及长径比分布等，为科研、生产领域增添了一种新的粒度测试手段；电子半导体图像法清洁
CHDF3000型高精度纳米粒度仪
产地：美国产品简介：1)CHDF3000是基于光散原理的仪器，使用新的技术对高分辨率的粒度分布(PSD)进行测量，包括高粒子检测灵敏度、动态范围、纳米粒子的优化分析；
激光粒度测试仪
JL-1177型全自动激光粒度仪，采用专门设计的由大规模集成电路工艺制造的大尺寸高灵敏度光电探测器阵列，蠕动循环泵进样方式，全程米氏理论和多种分布模型的数据处理方式，高精度的数据传输与处理电路等一系列先进的技术和制造工艺，是集激光技术、计算机技术、光电子技术